展示会事務局

フジサンケイ ビジネスアイ
(日本工業新聞社) 営業・事業本部
「測定計測展」事務局

〒100−8125
東京都千代田区大手町1−7−2
TEL.03-3273-6180
FAX.03-3241-4999
E-mail.info@mt-expo.jp

併催行事

基調講演

日   程: 9月13日(水)
時   間: 10:30−11:30
会   場: 東京ビッグサイト会議棟6 階 607/608号室
聴 講 料: 無料
定   員: 300名

「Connected Industries」の実現に向けた今後の取組について

経済産業省は本年3月、我が国の産業が目指す姿を示す概念として「Connected Industries」を提唱しました。
本講演では、様々な繋がりによって新たな付加価値の創出や社会課題の解決をもたらす「Connected Industries」の実現に向けた今後の取組をご紹介します。

講 師 経済産業省 製造産業局 産業機械課 課長 片岡 隆一 氏

満 席

9月1日(金) 14:20 事前のお申し込みで満席となりました。
当日会場にて空席が出ましたらご案内いたします。
事前のキャンセル待ちはお受け致しかねますのでご了承ください。

特別講演

日   程: 9月13日(水)
時   間: 13:00−14:30
会   場: 東京ビッグサイト会議棟6 階 607/608号室
聴 講 料: 無料
定   員: 300名

人を幸せにするモノづくり

サービス社会と言われていますが、私たちの生産性を劇的にあげるのは「モノ」です。
ネットの進展により、限界費用がゼロになると言われている今、どのようなモノづくりが求められているのか、ユーザー視点から考える方法を提案します。

講 師 勝間 和代 氏

満 席

8月31日(木) 11:10 事前のお申し込みで満席となりました。
当日会場にて空席が出ましたらご案内いたします。
事前のキャンセル待ちはお受け致しかねますのでご了承ください。

光計測シンポジウム2017

日   程: 9月14 日(木)
時   間: 10:00−16:00
会   場: 東京ビッグサイト 会議棟6階 605号室
主   催: 日本光学測定機工業会
参 加 費 用: (論文集込)
  一般参加 賛助会員 正会員、特別会員
全日参加 6,000円 4,000円 3,000円
午後参加 5,000円 3,000円
お申込方法: 日本光学測定機工業会HPから受講申込書をダウンロードして頂き、必要事項をご記入後、事務局までメールに添付の上お申し込みください。
http://www.j-oma.jp/
※お申込み多数の場合は途中で募集を打ち切ることがあります。
お問合せ先: 日本光学測定機工業会「光計測シンポジウム」事務局
TEL・FAX. 03-3435-8083 E-mail. info@j-oma.jp

プログラム

時間 演題項目/発表者(*登壇者)
【挨拶】 溝尻 旬(日本光学測定機工業会 技術委員長)
【座長】 椎名 達雄 氏(千葉大学)
10:00−10:20

角度測定を利用した高精度平面度計測

*尾藤 洋一 氏、近藤 余範 氏(産総研)

10:20-10:40

レーザーとラインCCDカメラを組み合わせた水中三次元形状計測法

*白石 耕一郎 氏、澤田 祐希 氏、星野 邦宏 氏(海上技術安全研究所)

10:40-11:00

都産技研における干渉計計測事例の紹介

*中村 弘史 氏(東京都立産業技術研究センター)

11:00-11:10 休憩
【座長】 川畑 州一(東京工芸大学)
11:10-11:30

Real-time gas imaging with snapshot infrared spectral cameras

*ネイザン・ヘーガン 氏(宇都宮大学)

11:30-11:50

長深度OCTによる溶液濃度の高精度評価

*椎名 達雄 氏(千葉大学)

11:50-12:10

スペックル干渉計測に基づく三次元変形計測法の測定感度を考慮した測定領域の拡大について

*新井 泰彦 氏(関西大学)

12:10−13:30 昼休み
【座長】 明田川 正人 氏(長岡技術科学大学)
13:30−13:50

三角測量方式による光学式変位センサの誤差

*平井 和彦 氏(オプテックス・エフエー(株))

13:50−14:10

極小径光ファイバプローブを用いた微細三次元形状精度測定システムの開発

*村上 洋 氏、内山 晃介 氏(北九州市立大学) 、甲木 昭雄 氏、佐島 隆生 氏(九州大学)、
吉田 一朗 氏(法政大学)、浜野 康雄 氏、本田 裕 氏(小坂研究所)

14:10−14:30

波長掃引干渉および白色干渉技術による光計測応用展開

*青戸 智浩 氏((株)東京精密)

14:30−14:50

高精度非接触センサー3D計測システム HN-C3030

*曽根 康寛 氏((株)ニコン)

14:50−15:00 休憩
【座長】 新井 泰彦 氏(関西大学)
15:00−15:20

光周波数コム装置による長さの最新トレーサビリティ体系

*川﨑 和彦 氏、鈴木 義将 氏、沼山 博志 氏((株)ミツトヨ)

15:20−15:40

正弦波位相変調による半導体レーザ周波数安定化と変位計測

*明田川 正人 氏、Duong Quang Anh 氏、樋口 雅人 氏、篠原 潤 氏、
韋 冬 氏(長岡技術科学大学)

15:40−16:00

6個の光検出器によるリアルタイム・ストークス偏光計

*川畑州一(東京工芸大学)、大谷幸利、柴田秀平(宇都宮大学)

【挨拶】 明田川 正人(日本光学測定機工業会 技術顧問)

※内容は予告なく変更される場合があります。

三次元測定機、測定機器セミナー

日   程: 9月13日(水)
時   間: 10:30−16:45
会   場: 東京ビッグサイト会議棟6 階 605号室
主   催: 日本精密測定機器工業会
参 加 費: 無料
お申込方法: 満席となりましたので受付を中止します。
お問合せ先: 日本精密測定機器工業会「セミナー」事務局
〒105-0003 東京都港区西新橋3-14-2
TEL. 03-3434-9557 FAX. 03-3434-1695
E-mail. info@jpmia.gr.jp

プログラム

形状測定技術動向
10:30−11:25

一般財団法人 日本品質保証機構 関西試験センター 計量計測課 課長 林 正智 氏
CNC 輪郭形状測定機による「ねじリングゲージ」の校正を例に形状測定技術について解説します。

ダイヤルゲージの最新技術
11:30−12:00

日本精密測定機器工業会 ダイヤルゲージ部会 主査 吉池 浩文 氏 (株式会社テクロック)
2017年3月に改訂されたダイヤルゲージのJIS規格について、改訂の背景や用語・性能評価方法などについてわかりやすく解説し、改訂のポイントを説明します。

CMMの技術動向
12:30−13:25

国立研究開発法人 産業技術総合研究所 計量標準総合センター 工学計測標準研究部門 幾何標準研究グループ グループ長 阿部 誠 氏
工業計測用X線CTの技術動向と検査規格のISO審議状況について解説します。

CMMの活用トレンド
13:30−14:25

川崎重工業株式会社 ガスタービンビジネスセンター 品質保証部 品証システム課( 兼)生産総括部 生産技術部 生産技術一課 基幹職 板橋 敏 氏
航空機産業の最先端の状況とそのものづくりにおけるCMMの活用についてIoTとデータ利用の点から解説します。

14:30−15:25

リンクウィズ株式会社 取締役 村松 弘隆 氏
測定業界の自動化、ロボット化の取り組みについてCMMの最新アプリケーションを実例を挙げて解説します。

CMM活用の為のヒント(都市伝説)
15:30−15:55

埼玉県産業技術総合センター 技術支援室 宮崎 智詞 氏、 企画・総務室 宇野 彰一 氏
三次元測定機のカタログ精度と実際の精度について、実機で検証した結果を解説します。

15:55−16:20

山梨県産業技術センター 機械技術部 米山 陽 氏
回転プロービングシステムによる同軸度測定について、実機で検証した結果を解説します。

16:20−16:45

長野県工業技術総合センター 精密・電子・航空技術部門 測定部 田中 敏幸 氏
座標系基準の違いによる測定結果への影響について、実機で検証した結果を解説します。

敬称略

実務応用セミナー 【登録不要(会場まで直接お越しください)】

出展者による、展示会と連動した新製品や新技術のプレゼンテーションを会場内の特設会場で実施いたします。

9月14日(木)特設会場D
10:30−11:15 プロニクス(株) 測定の新たな時代 ワークレス測定
講演者:藤井 愛弓
11:30−12:15 (株)東京精密 非接触センシングの応用事例紹介 ~ Opt-scopeとOpt-measure ~
講演者:青戸 智浩
9月15日(金)特設会場D
11:30−12:15 (株)ミツトヨ 精密測定機器ソリューション事例 ―ラインサイド、インライン測定―
講演者:石川 雅弘

新技術発表コーナー

産学連携を推進することを目的に、大学や研究機関に、最新の検査技術・情報を公開していただきます。

千葉大学大学院 工学研究院 大気・ガス・物の内部の新しい可視化技術
法政大学 理工学部 機械工学科 吉田一朗研究室 加工計測・機能デザインの研究開発
NPO法人 三次元工学会 内面形状計測プローブおよび高精度水平測定装置

技術相談コーナー(展示会場内)

近年、成形加工技術などの高度化に伴い加工物が複雑になると共に測定機も多様化しており、専門技術者でも困る場合があります。当展示会では、会場内に専門技術者による技術相談コーナーを開設し、ご相談を秘密厳守でお受けしております。お気軽にご利用ください。

9月13日(水)
10:00−12:00
  • 光学測定機器全般
  • 三次元測定機など精密測定機類全般
12:00−14:00
  • 光学測定機器全般
  • 三次元測定機など精密測定機類全般
  • ノギス・マイクロメータなど工業用長さ計類全般
14:00−16:00
  • 光学測定機器全般
  • 三次元測定機など精密測定機類全般
9月14日(木)
10:00−12:00
  • 光学測定機器全般
  • 三次元測定機など精密測定機類全般
12:00−14:00
  • 光学測定機器全般
  • 三次元測定機など精密測定機類全般
  • ダイヤルゲージなど工業用長さ計類全般
14:00−16:00
  • 光学測定機器全般
  • 三次元測定機など精密測定機類全般
9月15日(金)
10:00−12:00
  • 光学測定機器全般
  • 形状・粗さ測定機など精密測定機類全般
12:00−14:00
  • 光学測定機器全般
  • ゲージ類全般
  • 電気マイクロメータなど工業用長さ計類全般
14:00−16:00
  • 光学測定機器全般
  • 形状・粗さ測定機など精密測定機類全般
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