展示会事務局
フジサンケイ ビジネスアイ
(日本工業新聞社) 営業・事業本部
「測定計測展」事務局
〒100−8125
東京都千代田区大手町1−7−2
TEL.03-3273-6180
FAX.03-3241-4999
E-mail.mt-expo@sankei.co.jp
併催行事
基調講演 事前申込制（満席になり次第終了）
我が国製造業の課題と展望 ～Connected Industries の実現に向けて～
経済産業省では、我が国の産業が目指す姿として「Connected Industries」を提唱しています。
本講演では、我が国製造業を巡る現状と課題を踏まえ、様々な繋がりから新たな付加価値の創出や社会課題の解決をもたらす「Connected Industries」の実現に向けた取組をご紹介します。
経済産業省 製造産業局 産業機械課 課長補佐 池田 秀俊 氏
| 日 程： | 2019年9月11日（水） |
| 時 間： | 10:30～11:30 |
| 会 場： | 東京ビッグサイト 南展示棟2F 南会議室AB |
実務応用セミナー【登録不要（会場まで直接お越しください）】
出展者による、展示会と連動した新製品や新技術のプレゼンテーションを会場内のセミナー会場で実施いたします。
(敬称略)
会 場： 南ホール「測定計測展」内 セミナー会場 C
| 9月11日（水） | ||
| 13:00～13:40 | 株式会社東京精密 | X線CT装置、白色干渉顕微鏡の高精度3D計測事例
講演者：佐保 智英 |
|---|---|---|
| 13:55～14:15 | アンドール株式会社 | 検査工程を一気に効率化! 図面から検査表作成
講演者：枦木 正浩 |
| 14:30～15:00 | YKT株式会社 | 工作機械の誤差のデジタル一元管理と空間補正
講演者：海瀬 聖次郎 |
| 15:15～15:45 | マール・ジャパン株式会社 | 大型部品のキズ検出、形状を高速測定 非接触3D形状測定機
講演者：和田 隼忠 |
| 9月12日（木） | ||
| 13:00～13:30 | 株式会社第一測範製作所 | φ0.1mmの内径を繰り返し精度0.1μmで測定
講演者：技術部技術課 西方 崇 |
| 13:45～14:05 | キヤノンマーケティング ジャパン株式会社 |
光学式三次元プロファイラーの製造現場での活用実績紹介
講演者：計測機器課 鈴木 秀和 |
| 14:20～14:50 | YKT株式会社 | 幾何公差のための測定法と3DAによる革新
講演者：QVIジャパン株式会社 代表取締役 中村 聡 |
| 15:05～15:35 | レニショー株式会社 | 5軸制御プローブヘッドREVO-2の新機能について
講演者：千葉 雄大 |
| 15:50～16:20 | カールツァイス株式会社 | ZEISS X線CTソリューションのご紹介
講演者：黒川 大輔 |
新技術発表コーナー
産学連携を推進することを目的に、大学や研究機関に、最新の検査技術・情報を公開していただきます。
| 研究機関名 | 発表テーマ |
| 法政大学 理工学部 機械工学科 吉田一朗研究室 |
『工作機械の主軸テーパ穴内面の摩耗を定量測定可能とする新たな光学的計測法の研究』および『機能表面の評価に適した表面粗さ解析の研究』 |
|---|---|
| 宇都宮大学 大谷・ヘーガン研究室 | 加最新の分光・偏光イメージング技術の紹介工計測・機能デザインの研究開発 |
特別セミナー
複雑形状の計測と評価 ― 21世紀のものづくりを支える多数点群による形状計測 ―
【企画協力: 国立研究開発法人産業技術総合研究所 計量標準総合センター】
| 日 程： | 2019年9月13日（金） |
| 時 間： | 10:30～15:45 |
| 会 場： | 南ホール「測定計測展」内 セミナー会場 C |
| 参 加： | 無料（要登録） |
プログラム
| 10:30～10:35 | 挨拶 国立研究開発法人 産業技術総合研究所 企画本部 総合企画室 企画主幹 佐藤 理 氏 |
|---|---|
| 10:35～11:05 | 3次元自由曲面形状の評価手法の開発 三菱日立パワーシステムズ株式会社 ターボマシナリー本部 |
| 11:20～11:50 | 多数点群による安定した形状評価方法と信頼性検証手順の開発 国立研究開発法人 産業技術総合研究所 企画本部 総合企画室 企画主幹 佐藤 理 氏 |
| 13:00～13:30 | 3次元スキャンを有効活用するためのデータ処理解説 首都大学東京 システムデザイン研究科 機械システム工学域 准教授 長井 超慧 氏 |
| 13:45～14:15 | 3Dプリンター造形品の製品適用時における形状計測の勘所 地方独立行政法人 鳥取県産業技術センター 機械素材研究所 上席研究員 吉田 裕亮 氏 |
| 14:30～15:00 | 3次元CAD情報利活用の最新潮流と測定点群データ 株式会社エリジオン 取締役CTO 相馬 淳人 氏 |
| 15:15～15:45 | 3Dスキャン現場のリアルな計測事情 有限会社原製作所 代表取締役社長 原 洋介 氏 |
※内容は予告なく変更される場合があります。
事前のお申し込みで満席となりました。
当日会場にて空席が出ましたらご案内いたします。
事前のキャンセル待ちはお受け致しかねますのでご了承ください。
精密測定機器、三次元測定機セミナー
| 日 程： | 9月11日（水） |
| 時 間： | 10:00－16:00 |
| 会 場： | 東京ビッグサイト会議棟6 階 605､606 号室 |
| 主 催： | 日本精密測定機器工業会 |
| 参 加 費： | 無料 (テキスト代¥500) |
| お申込方法： | 日本精密測定機器工業会HPから受講申込書をダウンロードして頂き、必要事項をご記入後、事務局までメールに添付の上お申し込みください。 http://www.jpmia.gr.jp/ ※お申込み多数の場合は途中で募集を打ち切ることがあります。 |
| お問合せ先： | 日本精密測定機器工業会｢セミナー｣事務局 〒105-0003 東京都港区西新橋3-14-2 TEL. 03-3434-9557 FAX. 03-3434-1695 E-mail. info@jpmia.gr.jp |
プログラム
| 10:05－10:45 | （仮）精密測定機器における校正の動向 国立研究開発法人 産業技術総合研究所 計量標準総合センター 工学計測標準研究部門 |
|---|---|
| 重さや温度の定義が見直される中で国家標準の最新動向と現場での校正におけるトレーサビリティについて解説戴きます。 |
| 10:45－11:25 | 測定機器における校正の重要性 独立行政法人 製品評価技術基盤機構 認定センター 計量認定課 近藤 圭太郎 氏 |
|---|---|
| 計量トレーサビリティが要求される背景（重要性）とそのトレーサビリティを証明する校正機関の認定制度であるJCSSについてご紹介戴きます。 |
| 11:25－12:05 | 計測器管理における校正の重要性 一般財団法人 日本品質保証機構 中部試験センター 師勝試験所 計量計測課 副参事 富山 一男 氏 |
|---|---|
| 企業の品質を支える計測機器管理方法の基礎をはじめ、JQAの事業活動、計量計測トレーサビリティ、ISO/IEC17025試験所認定の活動内容及び認定事業者が発行する校正証明書の活用方法について紹介戴きます。 |
| 13:00－13:45 | トヨタ自動車におけるモデルベース開発（MBD）の一翼を担う精密測定技術 トヨタ自動車株式会社 計測・デジタル基盤改革部 PT計測評価室 室長 山本 貴也 氏 |
|---|---|
| モデルベース開発で活用するシミュレーションの精度向上には、物理量の計測・評価による現象のメカニズム解明と精密測定技術によるモデルへの正確なフィードバックが必要不可欠。今回は、トヨタ自動車様における取り組みの一端をご紹介戴きます。 |
| 13:45－14:30 | 航空機産業における精密計測・検査機器への期待 公益財団法人 神戸市産業振興財団 商業・ものづくり支援部 航空機産業担当部長 茨木 久徳 氏 |
|---|---|
| 航空機産業は、他産業への技術波及効果の高く、成長が期待される産業である一方、安全確保のため高い品質管理が要求され、中でも精密計測・検査機器が重要な役割を担っておりその役割と期待について解説して戴きます。 |
CMM活用の為のヒント（都市伝説）
| 14:45－15:10 | 非接触三次元測定機における測定設定の影響 地方独立行政法人 鳥取県産業技術センター 機械素材研究所 新見 浩司 氏 |
|---|---|
| 非接触測定においてスプレー塗布と測定設定の変更を行った場合のデータを比較することで、標準測定が困難なワークへの対処法としてどちらが有効であるかについて解説戴きます。 | |
| 15:10－15:35 | CMM と真円度・円筒形状測定機による測定結果の比較 滋賀県東北部工業技術センター 藤井 利徳 氏 |
| 三次元測定機の汎用性を活かして測定した円筒度測定結果と真円度・円筒形状測定機による測定結果との比較について解説して戴きます。 | |
| 15:35－16:00 | データム形体の測定範囲と幾何公差の関係 岐阜県産業技術総合センター 機械部 主任研究員 丹羽 孝晴 氏 |
| 同じ円柱での同軸度をデータム軸直線の長さを変えながら測定し，同軸度の測定における円柱の直径とデータム軸直線長さと関係について解説戴きます。 |
※内容は予告なく変更される場合があります。
技術相談コーナー（展示会場内）
近年、成形加工技術などの高度化に伴い加工物が複雑になると共に測定機も多様化しており、専門技術者でも困る場合があります。当展示会では、会場内に専門技術者による技術相談コーナーを開設し、ご相談を秘密厳守でお受けしております。お気軽にご利用ください。
| 9月11日（水） | 9月12日（木） | 9月13日（金） | |
| 10:00?12:00 |
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|---|---|---|---|
| 12:00?14:00 |
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| 14:00?16:00 |
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光計測シンポジウム 2019
| 日 程： | 2019年9月12日（木） | ||||||||||||
| 時 間： | 10:00－15:30 | ||||||||||||
| 会 場： | 東京ビッグサイト 会議棟6階 605号室 | ||||||||||||
| 主 催： | 日本光学測定機工業会 | ||||||||||||
| 参 加 費 用： | （論文集込）
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| お申込方法： |
日本光学測定機工業会HPから受講申込書をダウンロードして頂き、必要事項ご記入後、事務局までメールに添付の上お申し込みください。 https://www.j-oma.jp/info_expo/expo03.html/ |
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| お問合せ先： |
日本光学測定機工業会｢光計測シンポジウム｣事務局 TEL・FAX. 03-3435-8083 E-mail. info@j-oma.jp |
プログラム
| 時間 | 演題項目／発表者（＊登壇者） |
|---|---|
| 【挨拶】 明田川 正人（日本光学測定機工業会 技術顧問） | |
| 【座長】 永寿 伴章 氏（産業技術総合研究所） | |
| 10:00?10:20 | 散乱光方式による非接触表面粗さ・形状検査事例 ＊丸山 拓之 氏、高尾 邦彦 氏、矢尾板 達也 氏（株式会社ケン・オートメーション） |
| 10:20-10:40 | 最新のマニュアル画像測定機『QS-L/AFシリーズ』の開発 ＊蛭田 文人 氏、大森 豊博 氏（株式会社ミツトヨ） |
| 10:40-11:00 | デジタルマイクロスコープ DSX1000システムの開発 ＊細野 翔大 氏（オリンパス株式会社） |
| 11:00-11:10 | 休憩 |
| 【座長】 大谷 幸利 氏（宇都宮大学） | |
| 11:10-11:30 | スペックル干渉法を用いた回折限界を超えた三次元形状測定におけるゼロ次回折ビームの位相分布電磁場シミュレーション ＊新井 泰彦 氏（関西大学） |
| 11:30-11:50 | 位相同期ループを用いたヘテロダイン干渉計の位相補間法の開発 ＊明田川 正人 氏、Thanh Dong NGUYEN 氏、樋口 雅人 氏、 |
| 11:50-12:10 | ディスクビームプローブを用いた物体内径計測法の開発及びその応用 ＊金 蓮花 氏、芦澤 拓馬 氏（山梨大学）、ジェローズ ベルナール 氏（名古屋大学）、 |
| 12:10?13:30 | 昼休み |
| 【座長】 明田川 正人 氏（長岡科学技術大学） | |
| 13:30?13:50 | “ものづくり”を加速させる 計測用X線CT装置 ＊土屋 喜紀 氏（株式会社東京精密） |
| 13:50?14:10 | 950keV線形加速型X線源による高分解能X線CT撮像 ＊佐藤 智哉 氏、山田 篤志 氏、松永 教仁 氏、在家 正行 氏、 |
| 14:10?14:20 | 休憩 |
| 【座長】 新井 泰彦 氏（関西大学） | |
| 14:20?14:40 | 超小型・低価格中赤外分光イメージング装置 ＊石丸 伊知郎 氏（香川大学） |
| 14:40?15:00 | 携帯用OCTによる植物塩害の定量評価 ＊安田 博哉 氏、椎名 達夫 氏（千葉大学） |
| 15:00?15:20 | 偏光カメラを用いたフルストークス・イメージング ＊大谷 幸利 氏、柴田 秀平 氏、鈴木 理之 氏、ネイザン ヘーガン 氏（宇都宮大学） |
| 【挨拶】 日本光学測定機工業会 浜田 智秀 会長 |
※内容は予告なく変更される場合があります。