日本光学測定機工業会では、2009年、2010年は、諸般の事情により中止しました光計測シンポジウムを今年度再スタートする測定計測展(旧光ナノテクフェア)に併催して再開いたします。
光や画像による計測法や、レーザーを利用した計測法、医用分野への応用計測など、発表者と参加者による技術情報の交換を行なう事を目的としております。
基礎的な原理や活用方法とともに、関連する分野での実用的な事例や、その活用方法含などの発表の場として、下記により、皆様よりご講演を募集致します。奮ってご参加ください。
開催日: | 2011年10月14日(金) 10:00~17:00(予定) |
会 場: | 東京ビッグサイト 会議棟(予定) |
募集内容: | 光計測、画像計測、レーザーを利用した応用計測、医用分野への応用計測等の手法及び 実用的事例やその活用方法に関する内容 |
講演時間: | 質疑応答を含め20分 |
講演申込締切: | 2011年5月9日(月) 下記申し込み用紙によりお申し込みください。 プログラムは上記展示会案内状により広く告知致します |
論文集原稿締切: | 2011年7月29日(金) 講演内容をまとめた論文集は当日会場にて有料配布します。(講演者には一部贈呈致します) |
※講演使用機器は原則として液晶プロジェクターと致します。
※液晶プロジェクターは主催者が用意致します)但し、パソコンは発表者がご用意ください。
※論文集様式はA4判4枚とし、原稿を主催者でB5版にそのまま縮小印刷します。
※発表者には記念品を贈呈いたします。
日本光学測定機工業会「光計測シンポジウム」事務局
〒105−0011 東京都港区芝公園3-5-8 機械振興会館204